微谱大型研究型检测机构 · 无损检测平台
产品内部的气孔、缩松、疏松,用二维射线只能看投影,判断不了深度和数量。3D X 射线 CT 通过多角度投影重建三维体数据,可在任意剖面查看内部结构,并对空洞做定量统计。微谱配置蔡司 Xradia 620 Versa 3D X 射线检测系统,覆盖断层扫描、外形尺寸分析比对、壁厚分析与缺陷查找与分析,适合小型工业零件与精密件。
一、扫描与重建流程
| 步骤 | 内容 | 说明 |
|---|---|---|
| 1 | 样品评估 | 确认材质、***大壁厚、外形尺寸与***小关注缺陷尺寸 |
| 2 | 装夹定位 | 样件固定于样品台,确定扫描范围与放大倍率 |
| 3 | 投影采集 | X 射线绕样件多角度扫描,形成二维投影序列 |
| 4 | 体数据重建 | 由投影重建三维体数据,形成可切片的数字样件 |
| 5 | 缺陷识别 | 设定阈值分割,标记空洞、裂纹、夹杂等区域 |
| 6 | 定量统计 | 计算孔隙率、单孔体积、等效直径、数量与三维坐标 |
| 7 | 报告输出 | 出具切片图、三维模型与缺陷统计结果 |
二、三种常见样品的空洞分析
压铸件气孔与缩松
可输出总孔隙率或指定区域孔隙率、单孔等效直径、体积、数量与三维位置分布。委托时需明确是否剔除开口孔与伪影区。
封装焊点空洞
焊球间距小,对分辨率和放大倍率要求高于铸件扫描。可评估单个焊点的空洞情况,判定口径依客户图纸或所采用标准。
粉末冶金与增材制造件孔隙
关注孔隙分布均匀性与连通性。结果会受体素尺寸与阈值设定影响,报告中应注明孔径检出下限。
三、设备能力
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 设备 | 3D X 射线检测系统 蔡司 Xradia 620 Versa |
| 测试项目 | 断层扫描、外形尺寸分析比对、壁厚分析、缺陷查找与分析 |
| 样品范围 | 较小的样品,小型工业零件等,样品***大尺寸 <30cm |
| 配套手段 | X 光无损检测(GE Micromelx neo 160,***大样品重量 10kg、尺寸 500×500×120mm)、金相显微镜(孔隙率分析)、SEM-EDS(元素点扫线扫面扫) |
四、能测与不能测
可以承接:小型工业零件与精密件的内部空洞、气孔、缩孔、疏松、夹杂、裂纹的三维定位与定量统计;壁厚分析;外形尺寸与 CAD 数模比对。
需要提前确认:
- 样件外形尺寸超过 30cm 或重量较大时,需先评估是否可用其他设备或分段扫描
- 高密度、大壁厚金属件的穿透能力需按实际路径评估
- 极薄层缺陷、表面开口缺陷,CT 不一定优于超声、渗透或金相,需组合判断
- 裂纹方向与射线方向接近平行时,对比度可能下降
五、常见问题
Q1:孔隙率数值是**值吗?
A1:不是。孔隙率依赖阈值分割与体素尺寸设定,不同参数可得到不同结果。报告中应注明体素尺寸、孔径检出下限与判定规则,跨报告比较时需注意口径一致性。
Q2:只给切片图够不够?
A2:用于内部排查一般够用;用于客户验收或争议处理,建议同时索要重建体数据与缺陷统计表,便于复核。
Q3:能不能同时做壁厚和 CAD 比对?
A3:3D X 射线检测系统的测试项目覆盖断层扫描、外形尺寸分析比对、壁厚分析与缺陷查找与分析,可在同一次扫描数据上完成。
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信息来自微谱官网及公开资料,以***新确认为准。


