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薄膜介电常数测试方法 薄膜介电常数的测定

随着科技的进步,各种电子产品的尺寸都变得越来越小,让人们可以方便携带,这主要得益于大规模集成电路的出现,把所有电子元器件集成到一个电路板上,各种电磁元器件的尺寸也越来越小,一个合格的电子元器件在出厂之前都要做一些列的检测,薄膜介电常数测试就是其中一个,今天就让微谱给大家介绍一下薄膜介电常数测试方法,薄膜介电常数标准吧。

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薄膜介电常数什么意思

薄膜介电常数是反映压电智能材料电介质在静电场作用下介电性质或极化性质的主要参数,通常用ε来表示。不同用途的压电元件对压电智能材料的介电常数要求不同。当压电智能材料的形状、尺寸一定时,介电常数ε通过测量压电智能材料的固有电容CP来确定。

薄膜介电常数测试方法

需要使用专业的介电温谱仪测量,介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计,采用平行板电极原理,测试电极由上下电极+保护电极组成。上下电**有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,自动完成材料的高温介电常数测量,其测量软件可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱数据。

薄膜介电常数标准

韩国关于薄膜的介电常数的标准:

KS C 2150-2008在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法。

美国电子电路和电子互连行业协会,关于薄膜的介电常数的标准:

IPC TM-650 2.5.5.8-1995聚合物薄膜低频介电常数和损失正切。

行业标准-电子,关于薄膜的介电常数的标准:

SJ/T 1147-1993电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法。

关于薄膜介电常数测试方法,薄膜介电常数标准,今天就给大家介绍到这里,经常采用介电温谱仪测量来测量元器件的介电常数,方便高效,周期短,可以测量大部分的电子元器件,微谱在这方面是非常专业的,感兴趣的朋友赶紧来咨询一下吧。

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