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荧光寿命测试 荧光寿命测试原理

说起荧光寿命很多人可能摸不着头脑,因为我们平时接触的不是很多,就更别说它的寿命测试了,随着我国经济的蓬勃发展以及人们的生产力水平的提升,消费者对很多物品的色彩有了新的需求,我们***先接触荧光应该是从荧光色彩的出现,因为它比较色彩鲜艳,辨识度高,经常被用于交通道路的维护以及交警人员的着装,今天小编就荧光寿命测试,荧光寿命测试原理给大家讲讲。

荧光是什么

荧光(fluorescence)是一种光致冷发光现象。当某种常温物质经某种波长的入射光(通常是紫外线或X射线)照射,吸收光能后进入激发态,并且立即退激发并发出出射光(通常波长比入射光的的波长长,在可见光波段);而且一旦停止入射光,发光现象也随之立即消失。具有这种性质的出射光就被称之为荧光。一般以持续发光时间来分辨荧光或磷光,持续发光时间短于10-8秒的称为荧光,持续发光时间长于10-8秒的称为磷光。在日常生活中,人们通常广义地把各种微弱的光亮都称为荧光。

荧光寿命测试

荧光寿命的测试,也就是TRPL,测试方法常见的两种就是时域法(TCSPC)和频域法(FD),显然国内的文献中TCSPC更常见。TCSPC和DFD没有本质的差别。

如果样品的寿命范围在100ns~10μs,选择TCSPC和DFD都可以,如果是ns~s,DFD法更好,一套硬件就可以测大范围的寿命,并且测试速度快。

早起,相调制法是***早用于荧光寿命测试的方法,但是由于FD法使用模拟调制,可调制的频率有限,所以设备的实用性没有TCSPC法应用广泛,随着数字频域法(DFD)的成熟,可以调制各种需要的频率,可测试的寿命范围大大的得到扩展,所以应用我越来越多。

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早期,因为FD法不如TCSPC灵活,并且TCSPC是单光子技术,所以有更好的灵敏度和分辨率,这使得TCSPC迅速的走进了全球各个实验室。同事,因为TCSPC是单光子技术的原理,所以必须要求测试必须在弱光下进行以避因免光子累计效应导致的寿命普遍较理论值偏小,也是因为同原因,一个激发周期只能收集一个光子,所以TCSPC的效率低,测试会更耗时,特别是长寿命的样品。

数字频域法或者相调制法仅仅是时间相关单光子计数法的傅里叶变换的数学表达,两者本质原理无异。但是由于调制激发光后,激发以正弦波或者余弦波的形式表达,所以在测试的过程只需要得到相位Φ和调制比M就可以测得寿命值,这种方法就不要求光是弱光,所以光子计数率高,动态范围大,测试寿命范围宽,速度快。

荧光寿命测试原理

荧光寿命通常在ps~us量级,在如此短的时间量级上进行测量,TCSPC是***为成熟准确的测试手段。TCSPC的工作原理是使用一个同步信号源驱动激光器,出射光脉冲照射样品池,在利用光子探测装置(多为PMT)对荧光信号进行探测,每一个光子计数信号在FT1010中都会落入一个对应的时间窗口,经过一定时间的统计叠加后即得到荧光寿命曲线。几十万次重复以后,不同的时间通道累积下来的光子数目不同。以光子数对时间作图可得到,经过平滑处理得到荧光衰减曲线。

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